اطلاعیه

مقاله درباره ITO

کد محصول BR148

تعداد صفحات: ۱۰۶ صفحه فایل WORD

قیمت: ۱۵۰۰۰ تومان

دانلود فایل بلافاصله بعد از خرید

فهرست مطالب :

فصل اول
۱-۱- معرفی ITO و ویژگی های آن
۱-۱-۱- خواص عمومی و ساختار فیزیکی
۱-۱-۲- خواص الکتریکی
۱-۱-۳- تحرک حامل های آزاد؛ مکانیزم پراکندگی
۱-۱-۴- ویژگی های اپتیکی
۱-۱-۵- ثابتهای اپتیکی
۱-۱-۶- ساختار باند
۱-۲- روشهای لایه نشانی ITO
۱-۲-۱- تبخیر حرارتی
۱-۲-۲- لایه گذاری به روش بخار شیمیایی
۱-۲-۳- افشانه گرما کافت (Spry pyrolysis)
۱-۲-۴- چاپ صفحه ای (screen printing)
۱-۲-۵- لایه گذاری توسط باریکه الکترونی (e – beam)
۱-۲-۶- لایه گذاری به روش بخار شیمیایی
۱-۳- تماس نیمه هادی ITO
۱-۳-۱- تحلیل دیاگرام باند انرژی تماس MS
فصل دوم
۲-۱ عملیات قبل از لایه نشانی
۲-۱-۱- استفاده از محلول (RCA)
۲-۱-۲- استفاده از حمام اولتراسونیک
۲-۱-۳- گرما دهی به زیر لایه
۲-۲ عملیات لایه نشانی
۲-۲-۱- کندوپاش
۲-۲-۲- اساس مکانیزم کندوپاش
۲-۲-۳- dc کندوپاش
۲-۲-۴- rf کندوپاش
۲-۲-۵- مگنترون کندوپاش
۲-۲-۶- کندوپاش واکنشی
۲-۲-۷- مزیت های فرایند کندوپاش
۲-۲-۸- سیستم لایه نشانی مورد استفاده در این پروژه
۲-۲-۹- تاثیر فاصله بین هدف و زیرلایه بر خواص فیلم ITO
۲-۲-۱۰- تاثیر فشار جزئی اکسیژن روی ویژگی های فیلم ITO
– عملیات پس از لایه نشانی
– فرایند پس گرمایش
فصل سوم
۳-۱- الگودهی به نمونه ها
۳-۱-۱- طراحی و ساخت الگو
۳-۱-۲- انواع فتورزیست
۳-۱-۳- روش Lift-off
۳-۱-۴- روش زدایش (etching)
۳-۱-۴-۱- زدایش خشک
۳-۱-۴-۲- زدایش تر
۳-۲- ضخامت سنجی
۳-۳- اندازه گیری مقاومت تماس
۳-۴- اندازه گیری مقاومت ورقه ای
۳-۴-۱- پروب چهار نقطه ای
۳-۵- روش های کریستالوگرافی
۳-۵-۱- بررسی با کمک میکروسکوپ نوری
۳-۵-۲- بررسی با میکروسکوپ الکترونی
۳-۵-۳- میکروسکوپ اسکن کننده الکترونی (SEM) و تحلیل تفکیک کننده اشعه ایکس (EDX)
۳-۵-۴- میکروسکوپ انتقال دهنده الکترون (TEM)
۳-۵-۶- شناسایی بر اساس تفرق اشعه ایکس (XRD)
۳-۵-۷- RBS
۳-۵-۸- بررسی با کمک میکروسکوپ نیرو اتمی (AFM)
۳-۶- طیف سنجی فروسرخ
۳-۶-۱- فرایند جذب فروسرخ
۳-۶-۲- موارد کاربرد طیف فروسرخ
۳-۶-۳- حرکات ارتعاشی
۳-۶-۴- دستگاه طیف سنج فروسرخ

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

Time limit is exhausted. Please reload the CAPTCHA.